VEO_JM SAPPHIRE
1.43X / F3.0
VTシリーズ 16Kモデル（M95）に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM SAPPHIRE 1.43X / F3.0は、1.43倍の倍率とF3.0の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で103 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.5 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.2 ㎛のピンホール欠陥と2.3 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
アプリケーション
性能
| パラメータ | 仕様 | 補足 |
|---|---|---|
| 倍率 | 1.43 (1.38 … 1.47) | |
| F/# | F/3.0 … F/5.6 | 最適値 F/3.0 |
| 開口数 | 0.1 | オブジェクト平面 |
| Max. センサーサイズ [㎜] | 82 | |
| Infinite F/# | F/3.0 | |
| 焦点距離 [㎜] | 120 | |
| 被写界深度 [㎛] | 71.2 | @ P. CoC 10 ㎛ |
| 歪曲収差 | < 0.06% | |
| 波長 [㎚] | 436 … 645 | 可視 |
| ワーキングディスタンス [㎜] | 50 (51 … 49) | B/S … オブジェクト |
| ビームスプリッターサイズ | 25 × 25 × 120 | |
| トータルレングス [㎜] | 494 ± 2 | オブジェクトからセンサー |
| インターフェース | V90 mount | 0.75 pitch |
| アイリス | 可変 | |
| 周辺光量 | > 95% | |
| 重量 [g] | 1954 |
オプティカルパラメータ
| 項目 | パラメータ | 値 |
|---|---|---|
| Chief Ray Angle (Max.) in object plane | CRA | 8 |
| Effective focal length | f’eff [㎜] | 119.53 |
| Front focal length | SF [㎜] | -32.43 |
| Back focal length | S’F’ [㎜] | 76.78 |
| Principal plane distance | HH’ [㎜] | -1.12 |
| Pupil magnification | β‘P | 0.984 |
| Entrance pupil position | SEP [㎜] | 153.89 |
| Exit pupil position | S’AP [㎜] | -40.85 |
| Vertex width | Σd [㎜] | 193.6 |
※仕様は予告なく変更する場合があります
