VEO_CS SAPPHIRE
1.67X / F3.2
VTシリーズ 12Kモデル（M72）に最適化された産業用レンズ
12K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO CSシリーズは、VT-12K（VTシリーズ、12K、M72）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、62.5 mmのイメージサークルを備えた12K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_CS SAPPHIRE 1.67X / F3.2は、1.67倍の倍率とF2.9の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で120 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M72）との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.2 ㎛のピンホール欠陥と2.2 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
アプリケーション
性能
| パラメータ | 仕様 | 補足 |
|---|---|---|
| 倍率 | 1.67 (1.57 … 1.77) | |
| F/# | F/3.2 … F/5.6 | 最適値 F/3.2 |
| 開口数 | 0.103 | オブジェクト平面 |
| Max. センサーサイズ [㎜] | 62.5 | |
| Infinite F/# | F/3.2 | |
| 焦点距離 [㎜] | 88 | |
| 被写界深度 [㎛] | 57.8 | @ P. CoC 10 ㎛ |
| 歪曲収差 | < 0.05% | |
| 波長 [㎚] | 400 … 1000 | 可視 … NIR |
| ワーキングディスタンス [㎜] | 63.4 (65.4 … 64.4) | B/S … オブジェクト |
| ビームスプリッターサイズ | 25 × 25 × 80 | |
| トータルレングス [㎜] | 374.9 ± 2 | オブジェクトからセンサー |
| インターフェース | V70 mount | 0.75 pitch |
| アイリス | 可変 | |
| 周辺光量 | > 95% | |
| 重量 [g] | 935 |
オプティカルパラメータ
| 項目 | パラメータ | 値 |
|---|---|---|
| Chief Ray Angle (Max.) in object plane | CRA | 7.3 |
| Effective focal length | f’eff [㎜] | 87.8 |
| Front focal length | SF [㎜] | -11.85 |
| Back focal length | S’F’ [㎜] | 57.25 |
| Principal plane distance | HH’ [㎜] | 0.16 |
| Pupil magnification | β‘P | 1.1 |
| Entrance pupil position | SEP [㎜] | 68.13 |
| Exit pupil position | S’AP [㎜] | -39.13 |
| Vertex width | Σd [㎜] | 106.65 |
※仕様は予告なく変更する場合があります
