VEO JM DIAMOND
3.33X / F2.1
VTシリーズ 16Kモデル（M95）に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1は、3.33倍の倍率とF2.1の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で240 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.5 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.6 ㎛のピンホール欠陥と1.1 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
アプリケーション
性能
| パラメータ | 仕様 | 補足 |
|---|---|---|
| 倍率 | 3.33 (3.2 … 3.4) | |
| F/# | F/2.1 … F/4.0 | 最適値 F/2.1 |
| 開口数 | 0.18 | オブジェクト平面 |
| Max. センサーサイズ [㎜] | 82 | |
| Infinite F/# | F/2.1 | |
| 焦点距離 [㎜] | 121 | |
| 被写界深度 [㎛] | 16.4 | @ P. CoC 10 ㎛ |
| 歪曲収差 | < 0.05% | |
| 波長 [㎚] | 436 … 645 | 可視 |
| ワーキングディスタンス [㎜] | 39 (40 … 38) | B/S … オブジェクト |
| ビームスプリッターサイズ | 25 × 25 × 80 | |
| トータルレングス [㎜] | 665 ± 2 | オブジェクトからセンサー |
| インターフェース | V110 mount | 0.75 pitch |
| アイリス | 可変 | |
| 周辺光量 | > 95% | |
| 重量 [g] | 3101 |
オプティカルパラメータ
| 項目 | パラメータ | 値 |
|---|---|---|
| Chief Ray Angle (Max.) in object plane | CRA | 4.2 |
| Effective focal length | f’eff [㎜] | 121.5 |
| Front focal length | SF [㎜] | -3.47 |
| Back focal length | S’F’ [㎜] | 27.25 |
| Principal plane distance | HH’ [㎜] | -19.23 |
| Pupil magnification | β‘P | 0.95 |
| Entrance pupil position | SEP [㎜] | 125.06 |
| Exit pupil position | S’AP [㎜] | -87.57 |
| Vertex width | Σd [㎜] | 193.01 |
※仕様は予告なく変更する場合があります
