VEO シリーズ
Vieworks 産業用レンズ
VEO JMシリーズ
VEO_ JM DIAMOND
5.0X / F1.3VT
16Kモデル(M95)に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K(VTシリーズ、16K、M95)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM DIAMOND 5.0X / F1.3は、5.0倍の倍率とF1.3の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で360 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M95)との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.7 ㎛のピンホール欠陥と1.3 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO JMシリーズ
VEO_JM DIAMOND
3.33X / F2.1
VTシリーズ 16Kモデル(M95)に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K(VTシリーズ、16K、M95)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1は、3.33倍の倍率とF2.1の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で240 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M95)との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.5 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.4 ㎛のピンホール欠陥と0.8 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO JMシリーズ
VEO_JM DIAMOND
2.5X / F2.6
VTシリーズ 16Kモデル(M95)に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K(VTシリーズ、16K、M95)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM DIAMOND 2.5X / F2.6は、2.5倍の倍率とF2.6の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で180 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M95)との組み合わせにて、1ピクセルあたり2.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.7 ㎛のピンホール欠陥と1.5 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO JMシリーズ
VEO_JM sapphire
1.67X / F3.0
VTシリーズ 16Kモデル(M95)に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K(VTシリーズ、16K、M95)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM SAPPHIRE 1.67X / F3.0は、1.67倍の倍率とF3.0の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で120 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M95)との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.0 ㎛のピンホール欠陥と1.9 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO JMシリーズ
VEO_JM sapphire
1.43X / F3.0
VTシリーズ 16Kモデル(M95)に最適化された産業用レンズ
16K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K(VTシリーズ、16K、M95)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_JM SAPPHIRE 1.43X / F3.0は、1.43倍の倍率とF3.0の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で103 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M95)との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.5 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.2 ㎛のピンホール欠陥と2.3 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO CSシリーズ
VEO_CS DIAMOND
5.0X / F1.6
VTシリーズ 12Kモデル(M72)に最適化された産業用レンズ
12K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO CSシリーズは、VT-12K(VTシリーズ、12K、M72)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、62.5 mmのイメージサークルを備えた12K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_CS DIAMOND 5.0X / F1.6は、5.0倍の倍率とF1.6の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で360 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M72)との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.5 ㎛のピンホール欠陥と1.0 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO CSシリーズ
VEO_CS DIAMOND
3.33X / F2.3
VTシリーズ 12Kモデル(M72)に最適化された産業用レンズ
12K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO CSシリーズは、VT-12K(VTシリーズ、12K、M72)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、62.5 mmのイメージサークルを備えた12K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_CS DIAMOND 3.33X / F2.3は、3.33倍の倍率とF2.3の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で240 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M72)との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.5 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.5 ㎛のピンホール欠陥と1.0 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO CSシリーズ
VEO_CS DIAMOND
2.5X / F2.9
VTシリーズ 12Kモデル(M72)に最適化された産業用レンズ
12K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO CSシリーズは、VT-12K(VTシリーズ、12K、M72)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、62.5 mmのイメージサークルを備えた12K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_CS DIAMOND 2.5X / F2.9は、2.5倍の倍率とF2.9の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で180 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M72)との組み合わせにて、1ピクセルあたり2.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.9 ㎛のピンホール欠陥と1.6 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
VEO CSシリーズ
VEO_CS SAPPHIRE
1.67X / F3.2
VTシリーズ 12Kモデル(M72)に最適化された産業用レンズ
12K TDIラインスキャンカメラに最適化
VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO CSシリーズは、VT-12K(VTシリーズ、12K、M72)と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、62.5 mmのイメージサークルを備えた12K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。
高性能な高倍率レンズ
VEO_CS SAPPHIRE 1.67X / F3.2は、1.67倍の倍率とF2.9の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm(物体面で120 LP / mm)に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ(M72)との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.0 ㎛の解像度を実現します。
優れた欠陥検出性能
高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.2 ㎛のピンホール欠陥と2.2 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。
※テストにて使用したVERI-PANEL、同軸照明用光学部品と実際の使用環境において、若干のばらつきが生じる場合があります。
アプリケーション
FPD (Flat Panel Display) 検査
半導体 / ウェハ検査
ウェブ / テキスタイル