VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。

VEO_JM DIAMOND 5.0X / F1.3は、5.0倍の倍率とF1.3の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で360 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.0 ㎛の解像度を実現します。

高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.7 ㎛のピンホール欠陥と1.3 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。

VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。

VEO_JM DIAMOND 3.33X / F2.1は、3.33倍の倍率とF2.1の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で240 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり1.5 ㎛の解像度を実現します。

高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.4 ㎛のピンホール欠陥と0.8 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。

VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。

VEO_JM DIAMOND 2.5X / F2.6は、2.5倍の倍率とF2.6の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で180 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり2.0 ㎛の解像度を実現します。

高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、0.7 ㎛のピンホール欠陥と1.5 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。

VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。

VEO_JM SAPPHIRE 1.67X / F3.0は、1.67倍の倍率とF3.0の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で120 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.0 ㎛の解像度を実現します。

高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.0 ㎛のピンホール欠陥と1.9 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。

VieworksのTDIラインスキャンカメラ用レンズとして設計されたVEO JMシリーズは、VT-16K（VTシリーズ、16K、M95）と組み合わせ使用することで高品質な画像を提供します。VEO JMシリーズは、82 mmのイメージサークルを備えた16K / 5 ㎛ラインスキャンカメラに最適です。

VEO_JM SAPPHIRE 1.43X / F3.0は、1.43倍の倍率とF3.0の口径にて高いパフォーマンスを発揮する高倍率レンズです。 色収差は最小限に抑えられ、空間周波数が像面で72 LP / mm（物体面で103 LP / mm）に達しても最高の性能が維持されます。 VTシリーズカメラ（M95）との組み合わせにて、1ピクセルあたり3.5 ㎛の解像度を実現します。

高い倍率と解像度により、サブミクロンの欠陥検出が可能です。しきい値が15の場合、1.2 ㎛のピンホール欠陥と2.3 ㎛のアイランド欠陥を検出できます。 オープン欠陥とショート欠陥は、ピンホールの欠陥よりもさらに正確に検出できます。